فصلنامه تخصصی دانش آزمایشگاهی ایران | فصلنامه | زمستان1396
اطلاعات این شماره

شماره ۲۰

زمستان ۱۳۹۶

- در این شماره:

* اخبار
- همکاری حرفه‌ای بیش از 540 کارشناس و متخصص در کارگروه‌های تخصصی شبکه آزمایشگاهی.

 

* معرفی استاندارد
- واژه‌نامه اندازه‌شناسی در مقیاس نانو استاندارد ملی ایران شماره 21258:1395.


* مقالات
- مروری بر روش‌های یونیزاسیون مستقیم در طیف‌سنجی جرمی (MS)؛

- کاربردهای میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)؛

- معرفی آشکارساز الکترون‌های برگشتی در میکروسکوپ‌های الکترونی روبشی (SEM)؛

- اصول و مفاهیم طیف‌سنج فوتوالکترون پرتوایکس (XPS).

 

نظرات

پاسخ به نظــر بازگشت به حالت عادی ثبت نظر

نـــام
ایمیل
نظر شما
کارکترهایی که در تصویر می بینید را وارد نمایید. (حساس به حروف کوچک و بزرگ)