اطلاعات این شماره
شماره ۲۰
زمستان ۱۳۹۶
- در این شماره:
* اخبار
- همکاری حرفهای بیش از 540 کارشناس و متخصص در کارگروههای تخصصی شبکه آزمایشگاهی.
* معرفی استاندارد
- واژهنامه اندازهشناسی در مقیاس نانو استاندارد ملی ایران شماره 21258:1395.
* مقالات
- مروری بر روشهای یونیزاسیون مستقیم در طیفسنجی جرمی (MS)؛
- کاربردهای میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)؛
- معرفی آشکارساز الکترونهای برگشتی در میکروسکوپهای الکترونی روبشی (SEM)؛
- اصول و مفاهیم طیفسنج فوتوالکترون پرتوایکس (XPS).