اطلاعات این شماره

شماره ۲۰

زمستان ۱۳۹۶

- در این شماره:

* اخبار
- همکاری حرفه‌ای بیش از 540 کارشناس و متخصص در کارگروه‌های تخصصی شبکه آزمایشگاهی.

 

* معرفی استاندارد
- واژه‌نامه اندازه‌شناسی در مقیاس نانو استاندارد ملی ایران شماره 21258:1395.


* مقالات
- مروری بر روش‌های یونیزاسیون مستقیم در طیف‌سنجی جرمی (MS)؛

- کاربردهای میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)؛

- معرفی آشکارساز الکترون‌های برگشتی در میکروسکوپ‌های الکترونی روبشی (SEM)؛

- اصول و مفاهیم طیف‌سنج فوتوالکترون پرتوایکس (XPS).

 

نظرات

پاسخ به نظــر بازگشت به حالت عادی ثبت نظر

Captcha